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检测分析系列

 厚 德 载 物

SPECTRAN相位分析仪SPH-20

SPECTRAN相位分析仪 SPH-20 ,相位分析仪设计用于测量有源和无源射频和微波设备的相位特性。

该产品在开发、制造和出厂检验过程中提供实验室和车间条件下的微波晶体管、功率放大器、移相器参数的控制和测量。

应用

电信

测试和测量设备

研究实验室

特征

特征

频率范围 0.2 ... 20 GHz

相移测量范围,度 -180° ... +180 °

相移测量误差,度 ± (1 + 0,1 F + 0,05 А ),

F – 频率 , GHz

А – 传输比, dB

输入功率 10分贝

电源消耗 <300

工作温度 +5..+40° C

方面 257 x 266 x 167 毫米

重量 8.2 公斤

控制 USB LAN SPI 、并行




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